CS |
EN
Fraktografické pracoviště
Katedra materiálů
Fakulta jaderná a fyzikálně inženýrská ČVUT v Praze
Mikroskopy
JEOL JSM-IT500HR
- řádkovací elektronový mikroskop s autoemisní katodou (FEG),
- high-resolution,
- energiově dispersní spektrometr SDD (Silicon Drift Detector) JEOL EDS system,
- EBSD analyzátor.
JEOL JSM-5510LV
- řádkovací elektronový mikroskop,
- low vacuum,
- energiově dispersní spektrometr iXRF 500.
JEOL JSM-840A
- řádkovací elektronový mikroskop.
Další laboratoře a vybavení
- metalografická laboratoř,
- laboratoř měření mikrotvrdosti,
- laboratoř mechanických zkoušek.
Více o přístrojovém vybavení na stránkách katedry.