CS |
EN
Fraktografické pracoviště
Katedra materiálů
Fakulta jaderná a fyzikálně inženýrská ČVUT v Praze
![Obrázky lomů](img/hlavicka_obr.gif)
Mikroskopy
![JEOL JSM-IT500HR](img/JEOL500.jpg)
JEOL JSM-IT500HR
- řádkovací elektronový mikroskop s autoemisní katodou (FEG),
- high-resolution,
- energiově dispersní spektrometr SDD (Silicon Drift Detector) JEOL EDS system,
- EBSD analyzátor.
![JEOL JSM-5510LV](img/JEOL5510.jpg)
JEOL JSM-5510LV
- řádkovací elektronový mikroskop,
- low vacuum,
- energiově dispersní spektrometr iXRF 500.
![JEOL JSM-840A](img/JEOL840.jpg)
JEOL JSM-840A
- řádkovací elektronový mikroskop.
Další laboratoře a vybavení
- metalografická laboratoř,
- laboratoř měření mikrotvrdosti,
- laboratoř mechanických zkoušek.
Více o přístrojovém vybavení na stránkách katedry.